金相顯微鏡CX40M用于IC芯片 爆破粒子 新材料分析 電子元器件 鍍層涂層  盲孔檢測，帶拍照截圖功能  可輸出報告。

測量功能：點間距、點線間距、線間距、圓心距、弧、圓、角、矩形、多邊形測量、定標功能

輸出報告：文件管理、拍照命名、拍照路徑設置、導出數據到EXCEL和TXT；提供完整的圖像采集編輯測量報告輸出功能EXCEL和TXT

高效圖像采集編輯_測量-報告輸出

從用戶操作體驗出發，提供完整的圖像采集-編輯測量報告輸出一系列工作流，

優化操作流程，大大節省您的操作時間,

提高您的工作效率!

無論是明場、暗場、偏光成像均能得心應手完美ISP核心色彩還原技術，能夠有效地改善傳感器對光譜響應的色彩偏差,精準還原顯微視野下的真實色彩。優異的成像性能,

整合最新金相顯微鏡技術優勢，以優異的成像性能、舒適的操作體驗，為客戶提供高性價比的金相分析及工業檢測解決方案。拍照錄像，帶測量軟件 ，、多邊形測量、定標功能

光學系統：無限遠色差校正光學系統

雙觀察筒：30°傾斜，無限遠鉸鏈雙目觀察筒，瞳距調節: 54mm~75mm，單邊視度調節:士5屈光度

                30°傾斜，無限遠鉸鏈三通觀察筒，瞳距調節: 54mm~75mm,單邊視度調節:士5屈光度，兩檔分光比R:T=100:0或50:50

目鏡：

高眼點大視野平場目鏡PL10X 22mm

高眼點大視野平場目鏡PL10X 22mm (帶測微尺)

高眼點大視野平場目鏡PL10X 22mm (視度可調)

高眼點大視野平場目鏡PL15X 16mm

物鏡：

平場無限遠長工作距消色差金相物鏡(5X、 10X、 20X、 50X、 100X)

無限遠半復消帶校正環物鏡(50X)

物鏡轉換器：內定位五孔轉換器

透反兩用機架，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程28mm,微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節松粗微調焦機構

緊裝置和隨機上限位裝置。帶平臺位置上下調節機構，最大樣品高度28mm

反射機架，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程28mm,微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節松緊裝

置和隨機上限位裝置。帶平臺位置上下調節機構，最大樣品高度78mm

載物臺

雙層機械移動平臺，低手位X、Y方向同軸調節;平臺面積175X 145mm,移動范圍: 76mmX42mm

可配反射用金屬載物臺板，透反兩用玻璃載物臺板

上照明系統

自適應寬電壓100V-240V. _AC50/60Hz,反射燈室，單顆大功率5WLED，暖色，柯拉照明，帶視場光闌與孔

徑光闌，中心可調，帶斜照明裝置

下照明系統

自適應寬電壓100V-240V _AC50/60Hz,透射燈室，單顆大功率5WLED，暖色

聚光鏡

透射用搖出式消色差聚光鏡(N.A0.9)， 帶可變孔徑光闌，中心可調

透射用濾色片:黃色、1F550 濾色片、LBD 濾色片、中性濾色片

攝影攝像附件: 1X、0.67X、 0.5XC 接口，可調焦; 3.2X攝影目鏡，攝像接筒(帶 PK卡口或MD卡口)數

其他附件

碼相機中繼鏡

反射用干涉濾色片:藍色≤480nm ;綠色520nm~570nm ;紅色630~750nm ; LBD

高精度測微尺，格值0.01mm